SlideShare une entreprise Scribd logo
OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY
Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and
Expertise
29.01.15
F.Ferrieu
Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and
Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015
1
Expertise/ consultant développement & veille
technologique sur les techniques de Metrologie
Optique et applications utilisant la polarimétrie
Aide à l’Etablissement d’un protocole et assurer l’interface
avec des laboratoires de mesures sur des problématiques
Industrielles qui nécessitent de la caractérisation optique
(couches minces, nouveaux matériaux, nanotechnologies off
line et in line).
Ces Travaux bénéficient ainsi de l’approche d’Expert dans ce
Domaine avec
un Environnement de Recherche au sein de Serma Technologies
et du LETI
 un potentiel de métrologie unique avec MINATEC et SERMA
possibilité ainsi compléter les analyses (TEM, SIMS, ..)
 la possibilité d’utiliser des Instruments d’Optique de la
Métrologie du LETI et interface avec les laboratoires développant
les dernier instruments d’optique innovants comme en
Polarimetrie.
OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY
Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and
Expertise
29.01.15
F.Ferrieu
Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and
Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015
2
Expertise/ consultant développement & veille
technologique sur les techniques de Metrologie
Optique et applications utilisant la polarimétrie
Aide à l’Etablissement d’un protocole et assurer l’interface
avec des laboratoires de mesures sur des problématiques
Industrielles qui nécessitent de la caractérisation optique
(couches minces, nouveaux matériaux, nanotechnologies off
line et in line).
Ces Travaux bénéficient ainsi de l’approche d’Expert dans ce
Domaine avec
un Environnement de Recherche au sein de Serma Technologies
et du LETI
 un potentiel de métrologie unique avec MINATEC et SERMA
possibilité ainsi compléter les analyses (TEM, SIMS, ..)
 la possibilité d’utiliser des Instruments d’Optique de la
Métrologie du LETI et interface avec les laboratoires développant
les dernier instruments d’optique innovants comme en
Polarimetrie.
OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY
Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and
Expertise
29.01.15
F.Ferrieu
OMP _S.I.R.E.T Micro and Nano-Technology-Scientific
Consulting and Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015
52230889900015
3
Expertise, Apport d’expérience et Orientation sur les
possibilités de réalisation de mesures visant à faciliter la
mise en œuvre d’un projet industriel .
Mais aussi
Accompagnement dans la sélection de propositions
effectuées par les équipementiers dans le cadre de la
recherche d’instruments les mieux adaptés aux besoins de
métrologie.
Formation à l’utilisation et à l’optimisation des données des
instruments de mesure.
Support montage des programmes Européens ou Régionaux
sur la faisabilité et la pertinence d’un projet scientifique
Et en parallèle
Enseignement & Formation : séminaires d’application ou
généraux dans l’instrumentation Optique et ses applications.
OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY
Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and
Expertise
29.01.15
F.Ferrieu
OMP _S.I.R.E.T Micro and Nano-Technology-Scientific
Consulting and Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015
52230889900015
4
Notre Expérience
 Plus de 50 publications en Ellipsometrie et Polarimetrie.
Reviewer dans différents Journaux scientifiques TSF1
, JOSA2
et
EJAP3
.
Participation différents projets industriels dans le domaine de
l’instrumentation (premiers ellipsometres spectroscopiques
visible, infrarouge et extrême Ultraviolet en France )
Connaissance et interactions en NDA avec différents groupes
au niveau mondial en Ellipsometrie, Reflectometrie et
Polarimetrie : KLA Tencor , J. Woollam, Horiba Scientific et,
SopraLab
1
Thin Solid Films,
2
Journal of The Optical Society of America,
3
European Journal of Applied Physics
OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY
Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise
• Nanotechnologies
• Mesures in situ
• Matériaux nouveau
• Multi couches
• Etudes de surface par Polarimetrie
• Structures photoniques et Lithographie
• Adsorption de Surface et porosimetrie
29.01.15
OMP _S.I.R.E.T Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and
Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015
52230889900015
1
OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY
Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise
• Nanotechnologies
• Mesures in situ
• Matériaux nouveau
• Multi couches
• Etudes de surface par Polarimetrie
• Structures photoniques et Lithographie
• Adsorption de Surface et porosimetrie
29.01.15
OMP _S.I.R.E.T Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and
Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015
52230889900015
1

Contenu connexe

Similaire à Optical Metrology & Polarimetry

Memoire Egir Briantais
Memoire Egir BriantaisMemoire Egir Briantais
Memoire Egir Briantais
briantais
 
Bienvenue sur le Cours- Conférence de Y.Gervaise du 5 Janvier 2022
 Bienvenue sur le Cours- Conférence de Y.Gervaise du 5 Janvier 2022 Bienvenue sur le Cours- Conférence de Y.Gervaise du 5 Janvier 2022
Bienvenue sur le Cours- Conférence de Y.Gervaise du 5 Janvier 2022
Yvon Gervaise
 
LNE vecteur de compétitivité et de sécurité
LNE vecteur de compétitivité et de sécuritéLNE vecteur de compétitivité et de sécurité
LNE vecteur de compétitivité et de sécurité
Laboratoire national de métrologie et d'essais - LNE
 
Deltamu 2016
Deltamu 2016Deltamu 2016
Deltamu 2016
Jean-Michel POU
 
Tendances Technologiques Télécom Bluneo
Tendances Technologiques Télécom BluneoTendances Technologiques Télécom Bluneo
Tendances Technologiques Télécom Bluneo
Bluneo
 
Rapport Splunk.pdf
Rapport Splunk.pdfRapport Splunk.pdf
Rapport Splunk.pdf
HichemKhalfi
 
Une approche de la standardisation a l'etsi avec l'innovation et la recherche...
Une approche de la standardisation a l'etsi avec l'innovation et la recherche...Une approche de la standardisation a l'etsi avec l'innovation et la recherche...
Une approche de la standardisation a l'etsi avec l'innovation et la recherche...Patrick GUILLEMIN
 
Bt strasbourg-booklet-numérique
Bt strasbourg-booklet-numériqueBt strasbourg-booklet-numérique
Bt strasbourg-booklet-numérique
BoursesTechnos
 
PréSentation Neptune V7
PréSentation Neptune V7PréSentation Neptune V7
PréSentation Neptune V7bennour
 
Mooc usages en écoles d'ingenieurs et évolutions
Mooc usages en écoles d'ingenieurs et évolutionsMooc usages en écoles d'ingenieurs et évolutions
Mooc usages en écoles d'ingenieurs et évolutions
Jean-Marie Gilliot
 
BT_Evry_Présentation_des_technologies_05_03_15
BT_Evry_Présentation_des_technologies_05_03_15BT_Evry_Présentation_des_technologies_05_03_15
BT_Evry_Présentation_des_technologies_05_03_15
BoursesTechnos
 
Alain Bernard - Le 3D dans le monde
Alain Bernard - Le 3D dans le mondeAlain Bernard - Le 3D dans le monde
Alain Bernard - Le 3D dans le monde
Quoc Tuan Duong, ing.
 
Ametek France brochure
Ametek France brochureAmetek France brochure
Ametek France brochure
AMETEK STC
 
Le CSTB : l’accompagnement des innovateurs
Le CSTB : l’accompagnement des innovateursLe CSTB : l’accompagnement des innovateurs
Le CSTB : l’accompagnement des innovateurs
Novabuild
 
2010-06-01_Cluzel_SéminaireLGI_1A_Slides
2010-06-01_Cluzel_SéminaireLGI_1A_Slides2010-06-01_Cluzel_SéminaireLGI_1A_Slides
2010-06-01_Cluzel_SéminaireLGI_1A_SlidesJoël Devautour
 
Ciop Québec synthèse plan d'action 2011-2112
Ciop Québec synthèse plan d'action 2011-2112Ciop Québec synthèse plan d'action 2011-2112
Ciop Québec synthèse plan d'action 2011-2112
ciop-quebec
 
Un exemple de méthodologie de conception orientée utilisateur de produits in...
 Un exemple de méthodologie de conception orientée utilisateur de produits in... Un exemple de méthodologie de conception orientée utilisateur de produits in...
Un exemple de méthodologie de conception orientée utilisateur de produits in...
M@rsouin
 

Similaire à Optical Metrology & Polarimetry (20)

Stanislas Vandier, Le Textile Connecté - Cityzen Sciences
Stanislas Vandier, Le Textile Connecté - Cityzen SciencesStanislas Vandier, Le Textile Connecté - Cityzen Sciences
Stanislas Vandier, Le Textile Connecté - Cityzen Sciences
 
Memoire Egir Briantais
Memoire Egir BriantaisMemoire Egir Briantais
Memoire Egir Briantais
 
Bienvenue sur le Cours- Conférence de Y.Gervaise du 5 Janvier 2022
 Bienvenue sur le Cours- Conférence de Y.Gervaise du 5 Janvier 2022 Bienvenue sur le Cours- Conférence de Y.Gervaise du 5 Janvier 2022
Bienvenue sur le Cours- Conférence de Y.Gervaise du 5 Janvier 2022
 
LNE vecteur de compétitivité et de sécurité
LNE vecteur de compétitivité et de sécuritéLNE vecteur de compétitivité et de sécurité
LNE vecteur de compétitivité et de sécurité
 
Présentation de NMP dans Horizon 2020
Présentation de NMP dans Horizon 2020Présentation de NMP dans Horizon 2020
Présentation de NMP dans Horizon 2020
 
Deltamu 2016
Deltamu 2016Deltamu 2016
Deltamu 2016
 
Tendances Technologiques Télécom Bluneo
Tendances Technologiques Télécom BluneoTendances Technologiques Télécom Bluneo
Tendances Technologiques Télécom Bluneo
 
Rapport Splunk.pdf
Rapport Splunk.pdfRapport Splunk.pdf
Rapport Splunk.pdf
 
Une approche de la standardisation a l'etsi avec l'innovation et la recherche...
Une approche de la standardisation a l'etsi avec l'innovation et la recherche...Une approche de la standardisation a l'etsi avec l'innovation et la recherche...
Une approche de la standardisation a l'etsi avec l'innovation et la recherche...
 
Bt strasbourg-booklet-numérique
Bt strasbourg-booklet-numériqueBt strasbourg-booklet-numérique
Bt strasbourg-booklet-numérique
 
PréSentation Neptune V7
PréSentation Neptune V7PréSentation Neptune V7
PréSentation Neptune V7
 
Mooc usages en écoles d'ingenieurs et évolutions
Mooc usages en écoles d'ingenieurs et évolutionsMooc usages en écoles d'ingenieurs et évolutions
Mooc usages en écoles d'ingenieurs et évolutions
 
BT_Evry_Présentation_des_technologies_05_03_15
BT_Evry_Présentation_des_technologies_05_03_15BT_Evry_Présentation_des_technologies_05_03_15
BT_Evry_Présentation_des_technologies_05_03_15
 
Alain Bernard - Le 3D dans le monde
Alain Bernard - Le 3D dans le mondeAlain Bernard - Le 3D dans le monde
Alain Bernard - Le 3D dans le monde
 
Ametek France brochure
Ametek France brochureAmetek France brochure
Ametek France brochure
 
Le CSTB : l’accompagnement des innovateurs
Le CSTB : l’accompagnement des innovateursLe CSTB : l’accompagnement des innovateurs
Le CSTB : l’accompagnement des innovateurs
 
Nouvelles Acquisitions Décembre 2009
Nouvelles Acquisitions Décembre 2009Nouvelles Acquisitions Décembre 2009
Nouvelles Acquisitions Décembre 2009
 
2010-06-01_Cluzel_SéminaireLGI_1A_Slides
2010-06-01_Cluzel_SéminaireLGI_1A_Slides2010-06-01_Cluzel_SéminaireLGI_1A_Slides
2010-06-01_Cluzel_SéminaireLGI_1A_Slides
 
Ciop Québec synthèse plan d'action 2011-2112
Ciop Québec synthèse plan d'action 2011-2112Ciop Québec synthèse plan d'action 2011-2112
Ciop Québec synthèse plan d'action 2011-2112
 
Un exemple de méthodologie de conception orientée utilisateur de produits in...
 Un exemple de méthodologie de conception orientée utilisateur de produits in... Un exemple de méthodologie de conception orientée utilisateur de produits in...
Un exemple de méthodologie de conception orientée utilisateur de produits in...
 

Plus de fferrieu

Molecular Fractal Surfaces Analysis ICSE4-ffvi
Molecular Fractal Surfaces Analysis ICSE4-ffviMolecular Fractal Surfaces Analysis ICSE4-ffvi
Molecular Fractal Surfaces Analysis ICSE4-ffvi
fferrieu
 
Our expertises
Our expertisesOur expertises
Our expertises
fferrieu
 
AnalysistexturedfilmsperiodicgratingMueller
AnalysistexturedfilmsperiodicgratingMuellerAnalysistexturedfilmsperiodicgratingMueller
AnalysistexturedfilmsperiodicgratingMueller
fferrieu
 
posterTh20203
posterTh20203posterTh20203
posterTh20203
fferrieu
 
Om Peng
Om PengOm Peng
Om Peng
fferrieu
 
my projects
my projectsmy projects
my projects
fferrieu
 
Api009
Api009Api009
Api009
fferrieu
 

Plus de fferrieu (7)

Molecular Fractal Surfaces Analysis ICSE4-ffvi
Molecular Fractal Surfaces Analysis ICSE4-ffviMolecular Fractal Surfaces Analysis ICSE4-ffvi
Molecular Fractal Surfaces Analysis ICSE4-ffvi
 
Our expertises
Our expertisesOur expertises
Our expertises
 
AnalysistexturedfilmsperiodicgratingMueller
AnalysistexturedfilmsperiodicgratingMuellerAnalysistexturedfilmsperiodicgratingMueller
AnalysistexturedfilmsperiodicgratingMueller
 
posterTh20203
posterTh20203posterTh20203
posterTh20203
 
Om Peng
Om PengOm Peng
Om Peng
 
my projects
my projectsmy projects
my projects
 
Api009
Api009Api009
Api009
 

Dernier

Le Comptoir OCTO - Équipes infra et prod, ne ratez pas l'embarquement pour l'...
Le Comptoir OCTO - Équipes infra et prod, ne ratez pas l'embarquement pour l'...Le Comptoir OCTO - Équipes infra et prod, ne ratez pas l'embarquement pour l'...
Le Comptoir OCTO - Équipes infra et prod, ne ratez pas l'embarquement pour l'...
OCTO Technology
 
De l'IA comme plagiat à la rédaction d'une « charte IA » à l'université
De l'IA comme plagiat à la rédaction d'une « charte IA » à l'universitéDe l'IA comme plagiat à la rédaction d'une « charte IA » à l'université
De l'IA comme plagiat à la rédaction d'une « charte IA » à l'université
Université de Franche-Comté
 
Le support de présentation des Signaux 2024
Le support de présentation des Signaux 2024Le support de présentation des Signaux 2024
Le support de présentation des Signaux 2024
UNITECBordeaux
 
Le Comptoir OCTO - Qu’apporte l’analyse de cycle de vie lors d’un audit d’éco...
Le Comptoir OCTO - Qu’apporte l’analyse de cycle de vie lors d’un audit d’éco...Le Comptoir OCTO - Qu’apporte l’analyse de cycle de vie lors d’un audit d’éco...
Le Comptoir OCTO - Qu’apporte l’analyse de cycle de vie lors d’un audit d’éco...
OCTO Technology
 
Ouvrez la porte ou prenez un mur (Agile Tour Genève 2024)
Ouvrez la porte ou prenez un mur (Agile Tour Genève 2024)Ouvrez la porte ou prenez un mur (Agile Tour Genève 2024)
Ouvrez la porte ou prenez un mur (Agile Tour Genève 2024)
Laurent Speyser
 
OCTO TALKS : 4 Tech Trends du Software Engineering.pdf
OCTO TALKS : 4 Tech Trends du Software Engineering.pdfOCTO TALKS : 4 Tech Trends du Software Engineering.pdf
OCTO TALKS : 4 Tech Trends du Software Engineering.pdf
OCTO Technology
 

Dernier (6)

Le Comptoir OCTO - Équipes infra et prod, ne ratez pas l'embarquement pour l'...
Le Comptoir OCTO - Équipes infra et prod, ne ratez pas l'embarquement pour l'...Le Comptoir OCTO - Équipes infra et prod, ne ratez pas l'embarquement pour l'...
Le Comptoir OCTO - Équipes infra et prod, ne ratez pas l'embarquement pour l'...
 
De l'IA comme plagiat à la rédaction d'une « charte IA » à l'université
De l'IA comme plagiat à la rédaction d'une « charte IA » à l'universitéDe l'IA comme plagiat à la rédaction d'une « charte IA » à l'université
De l'IA comme plagiat à la rédaction d'une « charte IA » à l'université
 
Le support de présentation des Signaux 2024
Le support de présentation des Signaux 2024Le support de présentation des Signaux 2024
Le support de présentation des Signaux 2024
 
Le Comptoir OCTO - Qu’apporte l’analyse de cycle de vie lors d’un audit d’éco...
Le Comptoir OCTO - Qu’apporte l’analyse de cycle de vie lors d’un audit d’éco...Le Comptoir OCTO - Qu’apporte l’analyse de cycle de vie lors d’un audit d’éco...
Le Comptoir OCTO - Qu’apporte l’analyse de cycle de vie lors d’un audit d’éco...
 
Ouvrez la porte ou prenez un mur (Agile Tour Genève 2024)
Ouvrez la porte ou prenez un mur (Agile Tour Genève 2024)Ouvrez la porte ou prenez un mur (Agile Tour Genève 2024)
Ouvrez la porte ou prenez un mur (Agile Tour Genève 2024)
 
OCTO TALKS : 4 Tech Trends du Software Engineering.pdf
OCTO TALKS : 4 Tech Trends du Software Engineering.pdfOCTO TALKS : 4 Tech Trends du Software Engineering.pdf
OCTO TALKS : 4 Tech Trends du Software Engineering.pdf
 

Optical Metrology & Polarimetry

  • 1. OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise 29.01.15 F.Ferrieu Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015 1 Expertise/ consultant développement & veille technologique sur les techniques de Metrologie Optique et applications utilisant la polarimétrie Aide à l’Etablissement d’un protocole et assurer l’interface avec des laboratoires de mesures sur des problématiques Industrielles qui nécessitent de la caractérisation optique (couches minces, nouveaux matériaux, nanotechnologies off line et in line). Ces Travaux bénéficient ainsi de l’approche d’Expert dans ce Domaine avec un Environnement de Recherche au sein de Serma Technologies et du LETI  un potentiel de métrologie unique avec MINATEC et SERMA possibilité ainsi compléter les analyses (TEM, SIMS, ..)  la possibilité d’utiliser des Instruments d’Optique de la Métrologie du LETI et interface avec les laboratoires développant les dernier instruments d’optique innovants comme en Polarimetrie.
  • 2. OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise 29.01.15 F.Ferrieu Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015 2 Expertise/ consultant développement & veille technologique sur les techniques de Metrologie Optique et applications utilisant la polarimétrie Aide à l’Etablissement d’un protocole et assurer l’interface avec des laboratoires de mesures sur des problématiques Industrielles qui nécessitent de la caractérisation optique (couches minces, nouveaux matériaux, nanotechnologies off line et in line). Ces Travaux bénéficient ainsi de l’approche d’Expert dans ce Domaine avec un Environnement de Recherche au sein de Serma Technologies et du LETI  un potentiel de métrologie unique avec MINATEC et SERMA possibilité ainsi compléter les analyses (TEM, SIMS, ..)  la possibilité d’utiliser des Instruments d’Optique de la Métrologie du LETI et interface avec les laboratoires développant les dernier instruments d’optique innovants comme en Polarimetrie.
  • 3. OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise 29.01.15 F.Ferrieu OMP _S.I.R.E.T Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015 52230889900015 3 Expertise, Apport d’expérience et Orientation sur les possibilités de réalisation de mesures visant à faciliter la mise en œuvre d’un projet industriel . Mais aussi Accompagnement dans la sélection de propositions effectuées par les équipementiers dans le cadre de la recherche d’instruments les mieux adaptés aux besoins de métrologie. Formation à l’utilisation et à l’optimisation des données des instruments de mesure. Support montage des programmes Européens ou Régionaux sur la faisabilité et la pertinence d’un projet scientifique Et en parallèle Enseignement & Formation : séminaires d’application ou généraux dans l’instrumentation Optique et ses applications.
  • 4. OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise 29.01.15 F.Ferrieu OMP _S.I.R.E.T Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015 52230889900015 4 Notre Expérience  Plus de 50 publications en Ellipsometrie et Polarimetrie. Reviewer dans différents Journaux scientifiques TSF1 , JOSA2 et EJAP3 . Participation différents projets industriels dans le domaine de l’instrumentation (premiers ellipsometres spectroscopiques visible, infrarouge et extrême Ultraviolet en France ) Connaissance et interactions en NDA avec différents groupes au niveau mondial en Ellipsometrie, Reflectometrie et Polarimetrie : KLA Tencor , J. Woollam, Horiba Scientific et, SopraLab 1 Thin Solid Films, 2 Journal of The Optical Society of America, 3 European Journal of Applied Physics
  • 5. OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise • Nanotechnologies • Mesures in situ • Matériaux nouveau • Multi couches • Etudes de surface par Polarimetrie • Structures photoniques et Lithographie • Adsorption de Surface et porosimetrie 29.01.15 OMP _S.I.R.E.T Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015 52230889900015 1
  • 6. OPTICAL METROLOGY & POLARIMETRY Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise • Nanotechnologies • Mesures in situ • Matériaux nouveau • Multi couches • Etudes de surface par Polarimetrie • Structures photoniques et Lithographie • Adsorption de Surface et porosimetrie 29.01.15 OMP _S.I.R.E.T Micro and Nano-Technology-Scientific Consulting and Expertise OMP _S.I.R.E.T 52230889900015 52230889900015 1