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Indicatori Sintetici SPC e Report Automatici in
Minitab
Meet Minitab 2013
Milano, 9 Maggio
Andrea Laurenzi: Senior Statistician
P. 2 | MEMC Confidential
Summary
Presentazione MEMC/SunEdison
Introduzione
Problema
Obiettivo
Indicatori sintetici SPC
Esempio di report automatici
Conclusioni
P. 3 | MEMC Confidential
Business
P. 4 | MEMC Confidential
MEMC/SunEdison nel mondo
Manufacturing Facilities Sales & Support Offices SunEdison
St Peters Missouri (SOI)
Pasadena, Texas (1) (POLY)
Portland, Oregon (SOL)
Merano, Italy (1) (POLY, XTAL)
Novara, Italy (LE200)
Kuala Lumpur (LE150)
Kuching, Malaysia (SOL)
Ipoh, Malaysia (200)
Hsinchu, Taiwan (LE300)
Chonan, South Korea (LE300)
Utsunomiya, Japan (300)
St. Peters,
Missouri
Santa Clara,
California
Sherman, Texas
Paris, France
Novara, Italy
Singapore
Shanghai, China
Hsinchu, Taiwan
Seoul, South Korea
Tokyo, Japan
Toronto, Canada
Prescott, Arizona
Sacramento, California
San Clemente, California
San Francisco, California
Belmont, California
Denver, Colorado
Beltsville, Maryland
Pennsauken, New Jersey
Portland, Oregon
San Juan, Puerto Rico
St. Thomas, Virgin Islands
Chennai, India
Seoul, South Korea
Dubai, U.A.E
Paris, France
Lecce, Italy
Milan, Italy
Barcelona, Spain
Madrid, Spain
Utsunomiya, Japan
Ipoh, Malaysia
Merano, Italy (1)
Pasadena, Texas (1)
St. Peters, Missouri
Novara, Italy
Kuala Lumpur, Malaysia
Hsinchu, Taiwan
Chonan, South Korea
Kuching, Malaysia
Portland, Oregon
.
(1) Poly operations
(Merano operations idled – cost reduction efforts)
P. 5 | MEMC Confidential
SunEdison: >50 anni di storia come leader nella tecnologia
1959 Monsanto Electronic Materials Company (MEMC) formed
1962 Czochralski (CZ) silicon crystal process developed
1965 MEMC develops polishing process for silicon wafers
1975 First commercial production of 100mm wafers
1984 Commercialized 200mm wafers
1989 MEMC acquired by E.ON affiliate
1991 300mm wafers developed
1995 MEMC IPO on the NYSE
2002 Significant 300mm expansion
2004 Crossed $1B revenue mark; acquired Taisil
2005 First 300mm production in Taiwan
2006 Entered the solar PV wafer market on a large scale
2007 MEMC added to S&P 500; began solar wafer deliveries
2009 Acquired SunEdison and expanded into solar energy market
2010 Acquired Solaicx and Continuous Czochralski (CCZ) technology
2011 SunEdison one of the largest global solar PV companies
2013 Proposed change of Company’s name: SunEdison
P. 6 | MEMC Confidential
“MEMC/SunEdison in Italia”
Distance from main cities and airports:
Novara to: km miles
Milan 47 29
Genoa 152 94
Torino 93 58
Malpensa Airport 27 17
Linate Airport 69 43
Merano 347 197
Distance from main cities and airports:
Merano to: km miles
Verona 170 106
Venezia 240 149
Insbruck (A) 148 92
Muenchen (D) 307 191
Malpensa Apt. 341 212
Novara 347 197
P. 7 | MEMC Confidential
“22 anni di eccellenza nella Qualità”
1991
ISO 9001
1999
ISO 14001
2002
EMAS
2003
ISOTS 16949
2007
OHSAS 18001
1999
QS 9000
P. 8 | MEMC Confidential
Area Industriale di Novara
Total area 79,385 m²
Covered area 14,150 m²
Operations area 10,185 m²
Siamo qui
P. 9 | MEMC Confidential
Personale distribuito per funzione
P. 10 | MEMC Confidential
Esperienza del personale
Età media: 42 anni
Più del 50% con >15 anni
Di esperienza nel business del
silicio
P. 11 | MEMC Confidential
Fasi del processo produttivo
P. 12 | MEMC Confidential
Reparti di produzione
Final Polishing
P. 13 | MEMC Confidential
Reparti di produzione
Final Cleaning
P. 14 | MEMC Confidential
Reparti di produzione
Double Side Polishing
P. 15 | MEMC Confidential
Introduzione
L’obiettivo dell’azienda è realizzare prodotti a:
• Basso costo
• Alta qualità
• Alta affidabilità
P. 16 | MEMC Confidential
Introduzione
Capire e migliorare la qualità è uno dei fattori di
successo del business e dell’aumento della
competitività.
Il termine qualità può essere definito in diversi modi.
P. 17 | MEMC Confidential
Introduzione
La tradizionale definizione si basa sulla nozione che i
prodotti devono incontrare le richieste (requirements)
del cliente.
P. 18 | MEMC Confidential
Introduzione
Una definizione alternativa di “quality of conformance” è
l’inverso della variabilità.
Poichè la variabilità è un termine tipicamente statistico, i
metodi statistici sono fondamentali per migliorare la
qualità.
P. 19 | MEMC Confidential
Introduzione
Il controllo statistico di processo (SPC) produttivo è un
insieme di strumenti atti a controllare la stabilità del
processo e migliorarne la produttività attraverso la
riduzione della variabilità.
P. 20 | MEMC Confidential
Problema
Il macro processo aziendale delle società di
semiconduttori è costituito da centinaia di micro processi
utilizzati per arrivare al Prodotto finale.
ProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs Outputs
P. 21 | MEMC Confidential
Problema
Elevato numero di carte di controllo (10000-50000).
Problema economico: allocare le risorse limitate in
modo da migliorare la qualità dei processi.
P. 22 | MEMC Confidential
Obiettivo
1. Introdurre indicatori sintetici SPC per valutare la
performance dei processi.
• Questi indicatori forniscono un linguaggio semplice per
quantificare le prestazioni del processo ed aiutano gli
ingegneri a focalizzare le risorse.
• Permettono di controllare ogni mese la salute del processo.
P. 23 | MEMC Confidential
Obiettivo
• Gli indicatori sintetici sono:
̶ Cpk: valuta la capacità dl processo;
̶ %OOC: misura il carico di lavoro;
̶ P : valuta l’adeguatezza dei limiti di controllo;
̶ Sp : valuta la stabilità in media del processo
• Gli indici P e Sp sono nuovi indicatori.
2. Creare report automatici con macro sviluppate in Minitab.
P. 24 | MEMC Confidential
Indicatori sintetici SPC
Indice P
dove UCL e LCL sono i limiti di controllo
• P=1 i limiti di controllo sono ben settati;
• P>1 i limiti di controllo sono troppo ampi;
• P<1 i limiti di controllo sono troppo stretti.
σ6
LCLUCL
P
−
=
P. 25 | MEMC Confidential
Indicatori sintetici SPC
La funzione di densità di probabilità dell’indice P è:
2
1
1ˆ
−
−
≈
n
n
PP
χ
P. 26 | MEMC Confidential
Indicatori sintetici SPC
• non bisogna ricalcolare i limiti di controllo;
• i limiti di controllo sono troppo ampi;
• i limiti di controllo sono troppo stretti;
26.1ˆ8.0 ≤≤P
26.1ˆ >P
8.0ˆ <P
P. 27 | MEMC Confidential
Indicatori sintetici SPC
Indice Sp
di conseguenza lo stimatore di Sp è:
22
2
)(
)(
σµ
µ
+−
−
=
T
T
Sp
22
2
)(
)(ˆ
STX
TX
Sp
+−
−
=
P. 28 | MEMC Confidential
Indicatori sintetici SPC
• il processo ha problemi di stabilità in media;
• il processo è centrato.
5.0ˆ ≥pS
5.0ˆ <pS
P. 29 | MEMC Confidential
Esempio di report automatico con macro in Minitab
I limiti di controllo sono ben
settati.
Processo che ha problemi di
stabilità negli ultimi 5 mesi.
P. 30 | MEMC Confidential
Esempio di report automatico con macro in Minitab
Monthly time frame
P. 31 | MEMC Confidential
Conclusioni
Gli indicatori sintetici forniscono un linguaggio semplice per
quantificare la salute del sistema SPC.
Permettono di focalizzare al meglio le risorse con conseguente
impatto sui costi.
Studiate le proprietà statistiche dei nuovi indicatori P e Sp.
Sviluppate macro in Minitab per produrre report automatici da
analizzare e discutere negli SPC meeting (mensili) di reparto.
どうもありがとうどうもありがとうどうもありがとうどうもありがとう。。。。
감사합니다감사합니다감사합니다감사합니다
謝謝謝謝謝謝謝謝
TERIMA KASIH
GRAZIE
THANK YOU
P. 33 | MEMC Confidential
Bibliografia
Bissel A.F. (1990) – How Reliable is Your Capability index? Applied Statistics, vol. 39.
Boyles R.A. (1991) – The Taguchi Capability Index. Journal of Quality Technology, vol. 23.
Burr, I.W. (1967) - The Effect of Non-Normality on constants for X-bar and R Charts. Industrial quality Control.
Casella G. Berger R.L. (2002) Statistical inference – 2nd ed., Pacific Grove (CA), Duxbury.
Chan L.K., Cheng S.W. and Spring F.A. (1988) – A Graphical Technique for Process Capability. ASQC Quality Congress
Transactions, vol. 20, n° 3.
Chan L.K., Cheng S.W. and Spring F.A. (1988) – A New Measure of Process Capability: Cpm. Journal of Quality Technology,
vol. 20, n° 3.
Chen J.P. and Ding C.G. (2001) – A New Process Capability Index for Non-Normal Distributions. International Journal of
Quality & Relaibility Managment, vol. 18, n° 7.
David H.A. and Nagaraja H.N. (2003) Order Statistics – 3rd ed. Wiley and Sons, Hoboken, New Jersey.
Guenther W.C. (1974) – Sample Size Formulas for Some Binomial Type Problems. Technometrics, vol. 16, n° 3.
Guenther W.C. (1985) – Two-sided Distribution-Free Tolerance Intervals and Accompanying Sample Size Problems. Journal
of Quality Technology, vol. 17, n° 1.
Kane V.E.. (1986) –Process Capability Indices. Journal of Quality Technology, vol. 18, n° 1.
Kotz S. and Johnson N.L. (2002) – Process Capability Indices: A Review, 1992-200. Journal of Quality Technology, vol. 34,
n° 1.
Lehaman E. L. and Casella G. (1998) Theory of Point Estimation – 2nd ed., Springer, New York.
Montgomery D. C. (2005) – Controllo statistico della qualità. McGraw-Hill.
Mood A.M., Graybill F.A., Boes. D.C. (1974) Introduction to the theory of statistics - 3rd ed. McGraw-Hill, Auckland.
Pearn W.L. and Chen K.S. (1997) – Capability Indices For Non-Normal Distributions with An Application In Electrolytic
Capacitor Manufacturing. Microelectron. Reliab., vol. 37, n° 12.
Pearn W.L. and Lin G.H. (2003) – Distributions of the Estimated Process Capability Index Cpk. Economic quality Control, vol.
18, n° 2.
Pearn W.L., Kotz S. and Johnson N.L. (1992) – Distributional and inferential Properties of Process Capability indices. Journal
of Quality Technology, vol. 24, n° 4.
Shao j. (1999) Mathematical Statistics – Springer, New York.
Wheeler D.J. (2010) – Understanding Statistical Process Control - SPC Press, vol. 15.

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  • 1. Indicatori Sintetici SPC e Report Automatici in Minitab Meet Minitab 2013 Milano, 9 Maggio Andrea Laurenzi: Senior Statistician
  • 2. P. 2 | MEMC Confidential Summary Presentazione MEMC/SunEdison Introduzione Problema Obiettivo Indicatori sintetici SPC Esempio di report automatici Conclusioni
  • 3. P. 3 | MEMC Confidential Business
  • 4. P. 4 | MEMC Confidential MEMC/SunEdison nel mondo Manufacturing Facilities Sales & Support Offices SunEdison St Peters Missouri (SOI) Pasadena, Texas (1) (POLY) Portland, Oregon (SOL) Merano, Italy (1) (POLY, XTAL) Novara, Italy (LE200) Kuala Lumpur (LE150) Kuching, Malaysia (SOL) Ipoh, Malaysia (200) Hsinchu, Taiwan (LE300) Chonan, South Korea (LE300) Utsunomiya, Japan (300) St. Peters, Missouri Santa Clara, California Sherman, Texas Paris, France Novara, Italy Singapore Shanghai, China Hsinchu, Taiwan Seoul, South Korea Tokyo, Japan Toronto, Canada Prescott, Arizona Sacramento, California San Clemente, California San Francisco, California Belmont, California Denver, Colorado Beltsville, Maryland Pennsauken, New Jersey Portland, Oregon San Juan, Puerto Rico St. Thomas, Virgin Islands Chennai, India Seoul, South Korea Dubai, U.A.E Paris, France Lecce, Italy Milan, Italy Barcelona, Spain Madrid, Spain Utsunomiya, Japan Ipoh, Malaysia Merano, Italy (1) Pasadena, Texas (1) St. Peters, Missouri Novara, Italy Kuala Lumpur, Malaysia Hsinchu, Taiwan Chonan, South Korea Kuching, Malaysia Portland, Oregon . (1) Poly operations (Merano operations idled – cost reduction efforts)
  • 5. P. 5 | MEMC Confidential SunEdison: >50 anni di storia come leader nella tecnologia 1959 Monsanto Electronic Materials Company (MEMC) formed 1962 Czochralski (CZ) silicon crystal process developed 1965 MEMC develops polishing process for silicon wafers 1975 First commercial production of 100mm wafers 1984 Commercialized 200mm wafers 1989 MEMC acquired by E.ON affiliate 1991 300mm wafers developed 1995 MEMC IPO on the NYSE 2002 Significant 300mm expansion 2004 Crossed $1B revenue mark; acquired Taisil 2005 First 300mm production in Taiwan 2006 Entered the solar PV wafer market on a large scale 2007 MEMC added to S&P 500; began solar wafer deliveries 2009 Acquired SunEdison and expanded into solar energy market 2010 Acquired Solaicx and Continuous Czochralski (CCZ) technology 2011 SunEdison one of the largest global solar PV companies 2013 Proposed change of Company’s name: SunEdison
  • 6. P. 6 | MEMC Confidential “MEMC/SunEdison in Italia” Distance from main cities and airports: Novara to: km miles Milan 47 29 Genoa 152 94 Torino 93 58 Malpensa Airport 27 17 Linate Airport 69 43 Merano 347 197 Distance from main cities and airports: Merano to: km miles Verona 170 106 Venezia 240 149 Insbruck (A) 148 92 Muenchen (D) 307 191 Malpensa Apt. 341 212 Novara 347 197
  • 7. P. 7 | MEMC Confidential “22 anni di eccellenza nella Qualità” 1991 ISO 9001 1999 ISO 14001 2002 EMAS 2003 ISOTS 16949 2007 OHSAS 18001 1999 QS 9000
  • 8. P. 8 | MEMC Confidential Area Industriale di Novara Total area 79,385 m² Covered area 14,150 m² Operations area 10,185 m² Siamo qui
  • 9. P. 9 | MEMC Confidential Personale distribuito per funzione
  • 10. P. 10 | MEMC Confidential Esperienza del personale Età media: 42 anni Più del 50% con >15 anni Di esperienza nel business del silicio
  • 11. P. 11 | MEMC Confidential Fasi del processo produttivo
  • 12. P. 12 | MEMC Confidential Reparti di produzione Final Polishing
  • 13. P. 13 | MEMC Confidential Reparti di produzione Final Cleaning
  • 14. P. 14 | MEMC Confidential Reparti di produzione Double Side Polishing
  • 15. P. 15 | MEMC Confidential Introduzione L’obiettivo dell’azienda è realizzare prodotti a: • Basso costo • Alta qualità • Alta affidabilità
  • 16. P. 16 | MEMC Confidential Introduzione Capire e migliorare la qualità è uno dei fattori di successo del business e dell’aumento della competitività. Il termine qualità può essere definito in diversi modi.
  • 17. P. 17 | MEMC Confidential Introduzione La tradizionale definizione si basa sulla nozione che i prodotti devono incontrare le richieste (requirements) del cliente.
  • 18. P. 18 | MEMC Confidential Introduzione Una definizione alternativa di “quality of conformance” è l’inverso della variabilità. Poichè la variabilità è un termine tipicamente statistico, i metodi statistici sono fondamentali per migliorare la qualità.
  • 19. P. 19 | MEMC Confidential Introduzione Il controllo statistico di processo (SPC) produttivo è un insieme di strumenti atti a controllare la stabilità del processo e migliorarne la produttività attraverso la riduzione della variabilità.
  • 20. P. 20 | MEMC Confidential Problema Il macro processo aziendale delle società di semiconduttori è costituito da centinaia di micro processi utilizzati per arrivare al Prodotto finale. ProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs OutputsProcessInputs Outputs
  • 21. P. 21 | MEMC Confidential Problema Elevato numero di carte di controllo (10000-50000). Problema economico: allocare le risorse limitate in modo da migliorare la qualità dei processi.
  • 22. P. 22 | MEMC Confidential Obiettivo 1. Introdurre indicatori sintetici SPC per valutare la performance dei processi. • Questi indicatori forniscono un linguaggio semplice per quantificare le prestazioni del processo ed aiutano gli ingegneri a focalizzare le risorse. • Permettono di controllare ogni mese la salute del processo.
  • 23. P. 23 | MEMC Confidential Obiettivo • Gli indicatori sintetici sono: ̶ Cpk: valuta la capacità dl processo; ̶ %OOC: misura il carico di lavoro; ̶ P : valuta l’adeguatezza dei limiti di controllo; ̶ Sp : valuta la stabilità in media del processo • Gli indici P e Sp sono nuovi indicatori. 2. Creare report automatici con macro sviluppate in Minitab.
  • 24. P. 24 | MEMC Confidential Indicatori sintetici SPC Indice P dove UCL e LCL sono i limiti di controllo • P=1 i limiti di controllo sono ben settati; • P>1 i limiti di controllo sono troppo ampi; • P<1 i limiti di controllo sono troppo stretti. σ6 LCLUCL P − =
  • 25. P. 25 | MEMC Confidential Indicatori sintetici SPC La funzione di densità di probabilità dell’indice P è: 2 1 1ˆ − − ≈ n n PP χ
  • 26. P. 26 | MEMC Confidential Indicatori sintetici SPC • non bisogna ricalcolare i limiti di controllo; • i limiti di controllo sono troppo ampi; • i limiti di controllo sono troppo stretti; 26.1ˆ8.0 ≤≤P 26.1ˆ >P 8.0ˆ <P
  • 27. P. 27 | MEMC Confidential Indicatori sintetici SPC Indice Sp di conseguenza lo stimatore di Sp è: 22 2 )( )( σµ µ +− − = T T Sp 22 2 )( )(ˆ STX TX Sp +− − =
  • 28. P. 28 | MEMC Confidential Indicatori sintetici SPC • il processo ha problemi di stabilità in media; • il processo è centrato. 5.0ˆ ≥pS 5.0ˆ <pS
  • 29. P. 29 | MEMC Confidential Esempio di report automatico con macro in Minitab I limiti di controllo sono ben settati. Processo che ha problemi di stabilità negli ultimi 5 mesi.
  • 30. P. 30 | MEMC Confidential Esempio di report automatico con macro in Minitab Monthly time frame
  • 31. P. 31 | MEMC Confidential Conclusioni Gli indicatori sintetici forniscono un linguaggio semplice per quantificare la salute del sistema SPC. Permettono di focalizzare al meglio le risorse con conseguente impatto sui costi. Studiate le proprietà statistiche dei nuovi indicatori P e Sp. Sviluppate macro in Minitab per produrre report automatici da analizzare e discutere negli SPC meeting (mensili) di reparto.
  • 33. P. 33 | MEMC Confidential Bibliografia Bissel A.F. (1990) – How Reliable is Your Capability index? Applied Statistics, vol. 39. Boyles R.A. (1991) – The Taguchi Capability Index. Journal of Quality Technology, vol. 23. Burr, I.W. (1967) - The Effect of Non-Normality on constants for X-bar and R Charts. Industrial quality Control. Casella G. Berger R.L. (2002) Statistical inference – 2nd ed., Pacific Grove (CA), Duxbury. Chan L.K., Cheng S.W. and Spring F.A. (1988) – A Graphical Technique for Process Capability. ASQC Quality Congress Transactions, vol. 20, n° 3. Chan L.K., Cheng S.W. and Spring F.A. (1988) – A New Measure of Process Capability: Cpm. Journal of Quality Technology, vol. 20, n° 3. Chen J.P. and Ding C.G. (2001) – A New Process Capability Index for Non-Normal Distributions. International Journal of Quality & Relaibility Managment, vol. 18, n° 7. David H.A. and Nagaraja H.N. (2003) Order Statistics – 3rd ed. Wiley and Sons, Hoboken, New Jersey. Guenther W.C. (1974) – Sample Size Formulas for Some Binomial Type Problems. Technometrics, vol. 16, n° 3. Guenther W.C. (1985) – Two-sided Distribution-Free Tolerance Intervals and Accompanying Sample Size Problems. Journal of Quality Technology, vol. 17, n° 1. Kane V.E.. (1986) –Process Capability Indices. Journal of Quality Technology, vol. 18, n° 1. Kotz S. and Johnson N.L. (2002) – Process Capability Indices: A Review, 1992-200. Journal of Quality Technology, vol. 34, n° 1. Lehaman E. L. and Casella G. (1998) Theory of Point Estimation – 2nd ed., Springer, New York. Montgomery D. C. (2005) – Controllo statistico della qualità. McGraw-Hill. Mood A.M., Graybill F.A., Boes. D.C. (1974) Introduction to the theory of statistics - 3rd ed. McGraw-Hill, Auckland. Pearn W.L. and Chen K.S. (1997) – Capability Indices For Non-Normal Distributions with An Application In Electrolytic Capacitor Manufacturing. Microelectron. Reliab., vol. 37, n° 12. Pearn W.L. and Lin G.H. (2003) – Distributions of the Estimated Process Capability Index Cpk. Economic quality Control, vol. 18, n° 2. Pearn W.L., Kotz S. and Johnson N.L. (1992) – Distributional and inferential Properties of Process Capability indices. Journal of Quality Technology, vol. 24, n° 4. Shao j. (1999) Mathematical Statistics – Springer, New York. Wheeler D.J. (2010) – Understanding Statistical Process Control - SPC Press, vol. 15.