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2010/06/27
Part-2   Meeting Report




         半導體產業簡報



         Speaker: Connie Hsu
大綱
 半導體製程簡介
 IC 製造過程
 封裝測試流程
 IC 測試
 產業現況




            2
半導體製程簡介
 半導體製程
 • 上游:材料加工製造  &   IC 設計 / 光罩




 • 中游:晶圓之積體電路製造 (wafer fabrication)




 • 下游:晶圓切割、構裝、測試 (wafer package)




                        3
半導體製程簡介
 半導體製程
 • 上游:材料加工製造 
    矽晶石原料提煉矽多晶體 (polycrystalline silicon) 直到晶圓 (wafer) 產出。




 • 上游: IC 設計 / 光罩
    在 IC 設計階段則依客戶所需要之電氣特性 , 將電路模擬後畫圖成晶圓廠可以
     製作之圖形然後將設計出的圖形製版。
 • 廠商:威盛、矽統、凌揚




                              4
半導體製程簡介
 半導體製程
 • 上游:材料加工製造
      &   IC 設計 / 光罩



 • 中游:晶圓之積體電路製造
   (wafer fabrication)
    各種規格的晶圓,經由電路設計、光罩設計、蝕刻、擴散等製程,生產各種用
     途之晶圓。
 • 廠商:台積電、聯華電子




                         5
半導體製程簡介
 半導體製程
 • 上游:材料加工製造
      &   IC 設計 / 光罩



 • 中游:晶圓之積體電路製造
   (wafer fabrication)



 • 下游:晶圓切割、構裝
   (wafer package)
    將製造完成的晶圓,切割成片狀的晶粒 (dice) ,再經封裝及測試後即為半導體
     成品
 • 廠商:日月光、矽品、南茂、南岩

                         6
IC 製造過程




          7
封裝測試流程
   晶圓切割 (Die Saw)
   黏晶 (Die Bond)
   焊線 (Wire Bond)
   封模 (Molding)
   蓋印 (Marking)
   電鍍 (Plating)
   切腳成形 (Trim/Form)
   測試 (Testing)
   捲帶包裝 (Tape/Reel)




                  8
IC 測試
 程式: VB
 目的:控制測試系統硬體,以一定的方式保證 Device 達
  到或超越它的那些被具體定義在 Device 規格書裏的設計
  指標
 DC 測試─驗證電壓及電流參數
 功能測試─驗證晶片內部一系列邏輯功能操作的正確性
 AC 測試─用以保證晶片能在特定的時間約束內完成邏輯
  操作
 測試機: Credence(TMT) 、 Spandix-1600 、 Spandix-
  1300 、 CAT



                        9
產業現況
 台灣半導體工業關聯圖




               10
產業現況
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12

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  • 1. 2010/06/27 Part-2 Meeting Report 半導體產業簡報 Speaker: Connie Hsu
  • 2. 大綱  半導體製程簡介  IC 製造過程  封裝測試流程  IC 測試  產業現況 2
  • 3. 半導體製程簡介  半導體製程 • 上游:材料加工製造  &   IC 設計 / 光罩 • 中游:晶圓之積體電路製造 (wafer fabrication) • 下游:晶圓切割、構裝、測試 (wafer package) 3
  • 4. 半導體製程簡介  半導體製程 • 上游:材料加工製造   矽晶石原料提煉矽多晶體 (polycrystalline silicon) 直到晶圓 (wafer) 產出。 • 上游: IC 設計 / 光罩  在 IC 設計階段則依客戶所需要之電氣特性 , 將電路模擬後畫圖成晶圓廠可以 製作之圖形然後將設計出的圖形製版。 • 廠商:威盛、矽統、凌揚 4
  • 5. 半導體製程簡介  半導體製程 • 上游:材料加工製造     &   IC 設計 / 光罩 • 中游:晶圓之積體電路製造 (wafer fabrication)  各種規格的晶圓,經由電路設計、光罩設計、蝕刻、擴散等製程,生產各種用 途之晶圓。 • 廠商:台積電、聯華電子 5
  • 6. 半導體製程簡介  半導體製程 • 上游:材料加工製造     &   IC 設計 / 光罩 • 中游:晶圓之積體電路製造 (wafer fabrication) • 下游:晶圓切割、構裝 (wafer package)  將製造完成的晶圓,切割成片狀的晶粒 (dice) ,再經封裝及測試後即為半導體 成品 • 廠商:日月光、矽品、南茂、南岩 6
  • 8. 封裝測試流程  晶圓切割 (Die Saw)  黏晶 (Die Bond)  焊線 (Wire Bond)  封模 (Molding)  蓋印 (Marking)  電鍍 (Plating)  切腳成形 (Trim/Form)  測試 (Testing)  捲帶包裝 (Tape/Reel) 8
  • 9. IC 測試  程式: VB  目的:控制測試系統硬體,以一定的方式保證 Device 達 到或超越它的那些被具體定義在 Device 規格書裏的設計 指標  DC 測試─驗證電壓及電流參數  功能測試─驗證晶片內部一系列邏輯功能操作的正確性  AC 測試─用以保證晶片能在特定的時間約束內完成邏輯 操作  測試機: Credence(TMT) 、 Spandix-1600 、 Spandix- 1300 、 CAT 9
  • 12. 12