Cette rétrospective a été réalisée à partir de sondages faits en 1962 par l'institut Ifop.

1. 1
Flashback Opinion
1962 - Les Français et les accords d’Evian
Service d’information du Gouvernement
Département Opinion
Mars 2015

2. Après 8 années de guerre, les accords semblent être arrivés
comme un soulagement pour 8 Français sur 10
2
« Des accords France-F.L.N. viennent d’être signés à Evian. Dans l’ensemble, êtes-vous satisfait ou
mécontent de ces accords ? »
Source : Sondage réalisé en 1962 en face-à-face par l’institut Ifop
27 mars 1962
TOTAL
Satisfait
80%

3. Au lendemain des accords, les Français exprimaient un soutien
très ferme à la politique du Général de Gaulle
3
«Dans l’ensemble, approuvez-vous ou désapprouvez-vous la politique algérienne du Général de
Gaulle ? »
Source : Sondage réalisé en 1962 en face-à-face par l’institut Ifop
27 mars 1962
TOTAL
Approuve
76%

4. Des accords perçus comme une source de prestige
international pour la France
4
« La conclusion des accords d’Evian a-t-elle été, d’après vous, très favorable, assez favorable,
défavorable ou sans effet pour le prestige de la France dans le monde ? »
Source : Sondage réalisé en 1962 en face-à-face par l’institut Ifop
2 avril 1962
TOTAL
Favorable
76%

5. Pour autant de profondes incertitudes persistaient quant à la
portée réelle de ces accords
5
« A votre avis, est-ce que la guerre d’Algérie est vraiment finie, ou est-ce que tout peut encore être
remis en question ? »
Source : Sondage réalisé en 1962 en face-à-face par l’institut Ifop
20 mars 1962
Pour accéder aux données complémentaires sur le sujet :
http://www.ifop.com/?option=com_publication&type=publication&id=418

6. Pour autant de profondes incertitudes persistaient quant à la
portée réelle de ces accords
5
« A votre avis, est-ce que la guerre d’Algérie est vraiment finie, ou est-ce que tout peut encore être
remis en question ? »
Source : Sondage réalisé en 1962 en face-à-face par l’institut Ifop
20 mars 1962
Pour accéder aux données complémentaires sur le sujet :
http://www.ifop.com/?option=com_publication&type=publication&id=418