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Présentation Banc de Test




MAHOUACHI Mohamed
m.mahouachii@cynapsys.de




                              1
                            BD-MR-ENR-01
Présentation


    Les moyens de test fonctionnel
    Le test Fonctionnel sur la ligne d’assemblage
     Test Composant
     Test Carte équipée (Cluster, carte)



    Le test Fonctionnel Produit
     Architectures/solutions d’un testeur
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    Les solutions commerciales « génériques »




                                                     2
Tous les moyens de test fonctionnel




                                      3
les moyens de test fonctionnel


  En électronique, un test structurel est un test conçu pour vérifier
   chaque étape du procédé de fabrication d’une carte ou d’un
   système électronique.

  Il existe plusieurs méthodes de test structurel :

     Le test in-situ est en fait un Test Fonctionnel de chaque
      composant et de clusters d’une carte équipée.

      Test Fonctionnel désigne une procédure de vérification
 partielle ou totale d'un système électronique (boite noire).




                                                                    4
les moyens de test fonctionnel


  Le Test Fonctionnel vise à mettre en évidence des défauts de
 l'objet testé.

 Cependant il n'a pas pour objectif :

     de diagnostiquer la cause des erreurs,
     de les corriger,
     de prouver la correction de l'objet testé.




                                                                  5
Industries Adressées




                       la cartes


                                   6
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                                 10
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Notes de l'éditeur

  1. Agilent, takaya etc …
  2. Boundary scan description language  (BSDL) La technique de  Boundary-Scan  est conçue pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques numériques. Elle consiste à donner un accès auxiliaire aux broches d'entrée-sortie des composants numériques fortement intégrés. Initialement, le  Boundary Scan  était uniquement destiné au test des court-circuits et de la continuité entre puces compatibles. Connaissant le  schéma électrique  de la  carte électronique , on applique un ensemble de signaux logiques (appelé vecteur de test) sur les broches d'entrée de certains composants (depuis la chaîne  Boundary Scan  interne), et on relève les niveaux logiques sur les broches de sortie des composants qui y sont connectés, pour s'assurer qu'ils correspondent aux valeurs attendues.
  3. CVI LABWINDOWS, LABVIEW